「SEM」と同義語。 電子顕微鏡のこと（正式名：走査電子顕微鏡）。微小な表面構造を鮮明に観察することができるため、促進耐候性試験後の塗膜表面の劣化状態(顔料の抜け落ちや樹脂のひび割れ）などが確認できる。
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